◆ 技術講演・実習会「超高分解能走査型電子顕微鏡の基礎と応用」の御案内

　本年1月に、JKAの補助により超高分解能走査型電子顕微鏡
（FE-SEM仕様）を導入いたしました。
　既に多くの皆様からご利用いただいておりますが、改めて導入した機器の機能や特徴について理解を深め、企業様の品質管理、製品開発に活用して頂くため、下記のとおり技術講演会及び実習会を開催いたします。
　ご多忙中とは存じますが、多数ご参加いただきますよう御案内申し上げます。（御案内と参加申込み）

日 時：平成３０年６月１９日（火）13：20〜16：40
【申込期限：平成３０年６月１３日（水）】＜参加費無料＞
*詳細については、下記担当までお問い合せください。