◆ 分析走査電子顕微鏡(庄内試験場／化学・表面関係)

	分析走査電子顕微鏡日本電子㈱ JSM-IT300LA 平成２８年度導入（公財）JKA補助事業
【主な用途・仕様】製品・部品・材料の観察、元素分析を行う装置です。　　　・加速電圧・倍率：0.3～30kV・5～30万倍　　　・低真空圧力設定範囲：10～650Pa 　　　・試料移動範囲：X軸 125mm、Y軸 100mm、WD 5～80mm 　　　　　　　　　　　　　傾斜 -10～90°、回転360°エンドレス　　　・最大試料サイズ：φ200mm、高さ80mm 　　　・分析可能元素：ベリリウム（4Be）からウラン（92U）　　　・分解機能：定性分析（自動、手動）、簡易定量分析、デジタルマッピング　　　・観察補助機能：ステージナビゲーション、チャンバースコープ　　　・データ形式：画像（BMP，TIFF，JPEG）、動画（AVI）　　　　　　　　　　　観察・分析レポート（ワード形式）　　【担当部署】庄内試験場　機電技術部
【設備使用の項目・使用料】	分析走査電子顕微鏡使用料はこちらをご覧ください
【受託試験の項目・手数料】	電子顕微鏡写真 EDS定性分析（固体、粉末）手数料はこちらをご覧ください

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	分析走査電子顕微鏡日本電子㈱ JSM-IT300LA 平成２８年度導入（公財）JKA補助事業
【主な用途・仕様】製品・部品・材料の観察、元素分析を行う装置です。　　　・加速電圧・倍率：0.3～30kV・5～30万倍　　　・低真空圧力設定範囲：10～650Pa 　　　・試料移動範囲：X軸 125mm、Y軸 100mm、WD 5～80mm 　　　　　　　　　　　　　傾斜 -10～90°、回転360°エンドレス　　　・最大試料サイズ：φ200mm、高さ80mm 　　　・分析可能元素：ベリリウム（4Be）からウラン（92U）　　　・分解機能：定性分析（自動、手動）、簡易定量分析、デジタルマッピング　　　・観察補助機能：ステージナビゲーション、チャンバースコープ　　　・データ形式：画像（BMP，TIFF，JPEG）、動画（AVI）　　　　　　　　　　　観察・分析レポート（ワード形式）　　【担当部署】庄内試験場　機電技術部
【設備使用の項目・使用料】	分析走査電子顕微鏡使用料はこちらをご覧ください
【受託試験の項目・手数料】	電子顕微鏡写真 EDS定性分析（固体、粉末）手数料はこちらをご覧ください