◆ 分析走査電子顕微鏡(置賜試験場／化学・表面関係)

分析走査電子顕微鏡の外観 分析走査電子顕微鏡
日本電子
JSM-6610LA

平成２１年度導入　（財）ＪＫＡ補助事業

【主な用途・仕様】

無機・有機材料などの表面観察や微小領域の元素組成分析により、不良の原因解析や表面状態観察に使用します。

・倍率：5～300,000倍
・最大試料寸法：直径200mm
・観察可能範囲：X125mm、Y100mm
・試料ステージ：5軸モータードライブ
・検出元素範囲：₅B～₉₂U

【担当部署】置賜試験場特産技術部（交通案内・問い合わせ先はこちら）

【設備使用の項目・使用料】分析走査電子顕微鏡
使用料はこちらをご覧ください

【受託試験の項目・手数料】電子顕微鏡写真
EDS定性分析（固体、粉末）
手数料はこちらをご覧ください

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	分析走査電子顕微鏡日本電子 JSM-6610LA
平成２１年度導入　（財）ＪＫＡ補助事業【主な用途・仕様】無機・有機材料などの表面観察や微小領域の元素組成分析により、不良の原因解析や表面状態観察に使用します。・倍率：5～300,000倍・最大試料寸法：直径200mm ・観察可能範囲：X125mm、Y100mm ・試料ステージ：5軸モータードライブ・検出元素範囲：₅B～₉₂U 【担当部署】置賜試験場特産技術部（交通案内・問い合わせ先はこちら）
【設備使用の項目・使用料】	分析走査電子顕微鏡使用料はこちらをご覧ください
【受託試験の項目・手数料】	電子顕微鏡写真 EDS定性分析（固体、粉末）手数料はこちらをご覧ください