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◆ 分析走査電子顕微鏡(置賜試験場/化学・表面関係)

分析走査電子顕微鏡の外観 分析走査電子顕微鏡
日本電子
JSM-6610LA


平成21年度導入 (財)JKA補助事業

【主な用途・仕様】

無機・有機材料などの表面観察や微小領域の元素組成分析により、不良の原因解析や表面状態観察に使用します。

・ 倍率:5〜300,000倍
・ 最大試料寸法:直径200mm
・ 観察可能範囲:X125mm、Y100mm
・ 試料ステージ:5軸モータードライブ
・検出元素範囲:5B〜92U

【担当部署】 置賜試験場 特産技術部 (交通案内・問い合わせ先はこちら)
【設備使用の項目・使用料】 設備使用とは? 分析走査電子顕微鏡
使用料はこちらをご覧ください
【受託試験の項目・手数料】 受託試験とは? 電子顕微鏡写真
EDS定性分析(固体、粉末)
手数料はこちらをご覧ください


このページについてのお問い合わせ
 ○○○○部 ○○担当
Tel. XXX-XXX-XXXX
Mail: XXX@XXXX.XXXXXXX.XX

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